विहंगावलोकन:

क्रश एक खूप आहेठराविकc ची सुरक्षितता सत्यापित करण्यासाठी चाचणीएल्स, c च्या क्रश टक्करचे अनुकरण करणेएल्सकिंवा अंतिम उत्पादनsदैनंदिन वापरात. साधारणपणे दोन प्रकार असतातक्रशचाचण्या: सपाटक्रशआणि आंशिकक्रश. फ्लॅटच्या तुलनेतक्रश, आंशिकइंडेंटेशनगोलाकार किंवा दंडगोलाकार इंडेंटरमुळे उद्भवण्याची शक्यता जास्त असतेसेल अप्रभावी. इंडेंटर जितका तीक्ष्ण असेल, लिथियम बॅटरीच्या कोर स्ट्रक्चरवर अधिक केंद्रित ताण, आतील भाग फुटणे अधिक गंभीरकोर, ज्यामुळे गाभ्याचे विकृतीकरण आणि विस्थापन होईल आणि अगदी इलेक्ट्रोलाइट लीकेज किंवा अगदी आग यासारखे गंभीर परिणाम देखील होऊ शकतात. तर कसेक्रशकडे नेतृत्वनिष्क्रियीकरणच्या cell? येथेस्थानिक एक्सट्रूजन चाचणीमध्ये तुम्हाला कोरच्या अंतर्गत संरचनेच्या उत्क्रांतीची ओळख करून देते.

क्रशप्रक्रिया:

• पिळण्याची शक्ती प्रथम सेलच्या वेष्टनावर लागू केली जाते, आणि बंदिस्त विकृत होते. नंतर शक्ती बॅटरीच्या आतील भागात हस्तांतरित केली जाते आणि सेल असेंब्ली देखील विकृत होऊ लागते.
• क्रश हेडच्या पुढील कॉम्प्रेशनसह, विकृती विस्तारत आहे आणि स्थानिकीकरण तयार होते. त्याच वेळी, प्रत्येक इलेक्ट्रोड लेयरमधील लेयर अंतर हळूहळू लहान केले जाते. सतत कम्प्रेशन अंतर्गत, वर्तमान संग्राहक वाकलेला आणि विकृत होतो आणि कातरणे बँड तयार होतात. जेव्हा इलेक्ट्रोड सामग्रीची विकृती मर्यादेपर्यंत पोहोचते तेव्हा इलेक्ट्रोड सामग्री क्रॅक तयार करेल.
• विकृतीच्या वाढीसह, क्रॅक हळूहळू वर्तमान कलेक्टरपर्यंत वाढतो, जो फाटला जाईल आणि डक्टाइल फ्रॅक्चर तयार करेल. याव्यतिरिक्त, ताण आणि रेडियल विस्थापन वाढल्यामुळे रेडियल क्रॅक वाढलेला आहे.
• या टप्प्यावर, एक्सट्रूझन फोर्स सेलला कंप्रेस करणे सुरू ठेवते, ज्यामुळे अधिक इलेक्ट्रोड स्तरांना विकृत रूप येते, ज्यामुळे शिअर झोनचा विस्तार होतो, झुकाव कोन (45°) मध्ये बदल होतो आणि शिअर झोन श्रेणीचा आणखी विस्तार होतो.
• शेवटी, डायाफ्राम जसजसा ताणला आणि वळवला जातो, तसतसे डायाफ्रामपर्यंत वाढतात. जेव्हा ते निष्क्रियीकरण बिंदूवर पोहोचते, तेव्हा डायाफ्राम फाटला जातो आणि समीप इलेक्ट्रोड संपर्कात येतो, अंतर्गत शॉर्ट सर्किट बनतो. या टप्प्यावर, शॉर्ट-सर्किट पॉईंटवर एक मोठा शॉर्ट-सर्किट करंट तयार होतो, ज्यामुळे तीव्र गरम होते आणि तापमानात जलद वाढ होते, ज्यामुळे सेलमधील साइड रिॲक्शन्स ट्रिगर होतात आणि शेवटी थर्मल गैरवर्तन होऊ शकते.

सारांश:

क्रश टेस्ट हा एक प्रकारचा यांत्रिक गैरवापर आहे. लिथियम-आयन बॅटरीच्या दैनंदिन वापरामध्ये यांत्रिक गैरवर्तन हा एक अपरिहार्य सुरक्षेचा धोका आहे, ज्यामुळे डायाफ्राम फुटू शकतो आणि अंतर्गत शॉर्ट सर्किट होऊ शकते. तथापि, क्रश हेडच्या आकारामुळे, क्रश प्रेशरचा आकार आणि स्वतः सेलची ताकद बदलते, क्रश चाचणीचे निकाल बरेचदा बदलतात. शक्य तितक्या क्रश चाचणीद्वारे आणलेल्या सेलचे निष्क्रियीकरण टाळण्यासाठी सेल सामग्री किंवा संरचनेवर ऑप्टिमायझेशन आवश्यक आहे. उदाहरणार्थ, अधिक सुरक्षित, अधिक लवचिक डायाफ्रामचा वापर किंवा सेलच्या उष्णतेच्या अपव्यय कार्यक्षमतेत सुधारणा केल्याने जेव्हा अंतर्गत शॉर्ट-सर्किट होते तेव्हा थर्मल गैरवर्तन मोठ्या प्रमाणात टाळता येते.