पार्श्वभूमी

UL 1642 ची नवीन आवृत्ती प्रसिद्ध झाली.पाउच पेशींसाठी हेवी इम्पॅक्ट चाचण्यांचा पर्याय जोडला जातो.विशिष्ट आवश्यकता आहेत: 300 mAh पेक्षा जास्त क्षमतेच्या पाउच सेलसाठी, जर हेवी इम्पॅक्ट चाचणी उत्तीर्ण झाली नसेल, तर त्यांना कलम 14A राउंड रॉड एक्सट्रूजन चाचणी लागू केली जाऊ शकते.

पाऊच सेलमध्ये हार्ड केस नसतात, ज्यामुळे सेल फुटणे, टॅप फ्रॅक्चर, मोडतोड उडणे आणि हेवी इम्पॅक्ट चाचणीमध्ये अपयशी झाल्यामुळे इतर गंभीर नुकसान होते आणि डिझाइन दोष किंवा प्रक्रियेतील दोषांमुळे अंतर्गत शॉर्ट सर्किट शोधणे अशक्य होते. .गोल रॉड क्रश चाचणीसह, सेलच्या संरचनेला हानी न करता सेलमधील संभाव्य दोष शोधले जाऊ शकतात.ही परिस्थिती लक्षात घेऊन ही सुधारणा करण्यात आली आहे.

चाचणी प्रवाह

• निर्मात्याने शिफारस केल्यानुसार नमुना पूर्णपणे आकारला जातो
• सपाट पृष्ठभागावर नमुना ठेवा.25 व्यासाचा एक गोल स्टील रॉड ठेवा±नमुन्याच्या वरच्या बाजूला 1 मि.मी.रॉडची धार सेलच्या वरच्या काठाशी, टॅबला लंबवत उभ्या अक्षासह संरेखित केली पाहिजे (FIG. 1).रॉडची लांबी चाचणी नमुन्याच्या प्रत्येक काठापेक्षा किमान 5 मिमी रुंद असावी.विरुद्ध बाजूंना सकारात्मक आणि नकारात्मक टॅब असलेल्या सेलसाठी, टॅबच्या प्रत्येक बाजूची चाचणी करणे आवश्यक आहे.टॅबची प्रत्येक बाजू वेगवेगळ्या नमुन्यांवर तपासली पाहिजे.
• जाडीचे मापन (सहिष्णुता±0.1mm) पेशींसाठी IEC 61960-3 च्या परिशिष्ट A नुसार चाचणी करण्यापूर्वी केली जाईल (अल्कलाइन किंवा इतर नॉन-अम्लीय इलेक्ट्रोलाइट्स असलेल्या दुय्यम पेशी आणि बॅटरी - पोर्टेबल दुय्यम लिथियम पेशी आणि बॅटरी - भाग 3: प्रिझमॅटिक आणि दंडगोलाकार लिथियम द्वितीयक पेशी आणि बॅटरी)
• नंतर गोल रॉडवर दाब दाबला जातो आणि उभ्या दिशेने विस्थापन नोंदवले जाते (FIG. 2).दाबणाऱ्या प्लेटची हालचाल गती 0.1mm/s पेक्षा जास्त नसावी.जेव्हा सेलची विकृती 13 पर्यंत पोहोचते±सेलच्या जाडीच्या 1%, किंवा दाब तक्ता 1 मध्ये दर्शविलेल्या शक्तीपर्यंत पोहोचतो (वेगवेगळ्या सेलची जाडी वेगवेगळ्या बल मूल्यांशी संबंधित असते), प्लेटचे विस्थापन थांबवा आणि 30s साठी दाबून ठेवा.परीक्षा संपते.
• आग किंवा नमुन्यांचा स्फोट नाही.

प्रायोगिक विश्लेषण

• एक्सट्रूजन पोझिशनची निवड: पोल टॅब एरिया हे साधारणपणे पाऊच सेलचे कमकुवत क्षेत्र असते आणि टॅब पोझिशन पिळून काढताना सर्वात जास्त ताण सहन करते.कारणे आहेत:

अ) असमान जाडीचे वितरण (ध्रुव टॅब आणि आसपासच्या सक्रिय पदार्थांमधील असमान जाडीमुळे असमान ताण वितरण होते)

b) टॅब क्षेत्रातील वेल्डिंग गुण (वेल्ड पॉइंट आणि नॉन-वेल्ड पॉइंटवर ताण वितरण)

• गोल रॉडची निवड: गोल रॉडचा व्यास 25 मिमी आहे.सेलमधील पोल टॅबचे संपूर्ण क्षेत्र (विशेषतः पोल टॅब सोल्डर जॉइंटचे क्षेत्र) कव्हर करण्यासाठी हे मूल्य निवडले आहे.
• 13±1% विकृती: सध्या बाजारात सर्वात पातळ सेलची जाडी 2 मिमी आहे.बॅटरी एन्क्लोजर किंवा पॅकेजिंग प्रक्रियेच्या प्रभावामुळे, पोल टॅब सोल्डर जॉइंटला कॉम्प्रेशन करण्यासाठी किमान 8% प्रकार व्हेरिएबल आवश्यक आहे, परंतु टाइप व्हेरिएबल खूप मोठे असल्यास ते थेट इलेक्ट्रोड क्रॅकिंगकडे नेईल.13 चे मूल्य±IEC 62660-3 मधील एक्सट्रूजन चाचणीमध्ये मध्यम व्हेरिएबल 15% चा संदर्भ देत, या पुनरावृत्तीमध्ये 1% निवडले गेले.
• नमुना निवड: हे लक्षात घेतले पाहिजे की ही चाचणी केवळ पाउच सेलसाठी आहे ज्यांची क्षमता 300mAh पेक्षा जास्त आहे आणि ज्यांना जड वस्तूंचा फटका बसला नाही.5 नमुने आवश्यक आहेत.बेलनाकार किंवा प्रिझमॅटिक पेशी आणि थैली पेशी जड वस्तूंनी आदळतात'या चाचणीसाठी विचारात घेणे आवश्यक नाही.

सारांश

नवीन राउंड रॉड एक्स्ट्रुजन चाचणी UL 1642 च्या मूळ एक्सट्रूजन चाचणीपेक्षा वेगळी आहे. मूळ एक्सट्रूजन चाचणी फ्लॅट एक्सट्रूझन वापरणे आणि वेळ न ठेवता स्थिर 13kN बल लागू करणे आहे.हे सर्व प्रकारच्या सेलसाठी लागू आहे.ही चाचणी सेलची संपूर्ण यांत्रिक शक्ती (केससह) आणि यांत्रिक ताण सहन करण्याची क्षमता तपासते;गोल रॉड एक्सट्रूझन केवळ सेलच्या एका भागाची चाचणी घेते, तर इंडेंटरचे लहान क्षेत्र अंतर्गत ताण केंद्रित करेल, अंतर्गत शॉर्ट सर्किट होऊ शकते.विशेषतः, पोल टॅब वेल्डिंगच्या कमकुवत क्षेत्रामध्ये एक्सट्रूझन स्थिती निवडली जाते, ज्यामुळे सेलच्या सुरक्षिततेच्या कार्यप्रदर्शनाची अधिक चांगली तपासणी केली जाऊ शकते.

सध्या, ही गोल रॉड पद्धत GB 31241 मधील पाउच सेलच्या एक्सट्रूजन चाचणीमध्ये देखील वापरली जाते. MCM ला या ऑपरेशनमध्ये उत्तम चाचणी अनुभव आहे.